PD 6598-1996 欧洲微试验芯片特性测量技术
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 09:31:31 浏览:9453
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【英文标准名称】:MeasurementtechniquesforthecharacterizationoftheEuropeanminitestchip
【原文标准名称】:欧洲微试验芯片特性测量技术
【标准号】:PD6598-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1996-07-15
【实施或试行日期】:1996-07-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电容测量;厚度测量;电学测量;金属氧化物半导体;频率测量;尺寸测量;电容器;晶体管;数字集成电路;微处理机芯片;电流测量
【英文主题词】:digitalintegratedcircuits;capacitors;thicknessmeasurement;dimensionalmeasurement;transistors;electricalmeasurement;frequencymeasurement;currentmeasurement;metaloxidesemiconductors;microprocessorchips;capacitancemeasurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:28P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:欧洲微试验芯片特性测量技术
【标准号】:PD6598-1996
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1996-07-15
【实施或试行日期】:1996-07-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电容测量;厚度测量;电学测量;金属氧化物半导体;频率测量;尺寸测量;电容器;晶体管;数字集成电路;微处理机芯片;电流测量
【英文主题词】:digitalintegratedcircuits;capacitors;thicknessmeasurement;dimensionalmeasurement;transistors;electricalmeasurement;frequencymeasurement;currentmeasurement;metaloxidesemiconductors;microprocessorchips;capacitancemeasurement
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:28P;A4
【正文语种】:英语
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