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BS CECC 23000-1989 电子元器件质量评定协调体系.总规范.印制电路板

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 13:56:20  浏览:9975   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Hdsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents.Genericspecification:printedboards
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.总规范.印制电路板
【标准号】:BSCECC23000-1989
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1989-09-29
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:鉴定试验;印制电路;电子设备及元件;详细规范;质量保证体系;评估的质量;规范(审批);印制电路板;检验;能力鉴定;作标记
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L30;L00
【国际标准分类号】:
【页数】:32P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:普通螺纹量规技术条件
中标分类:
替代情况:HB 3908-86
发布日期:1995-12-13
实施日期:1996-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:15页
适用范围

没有内容

前言

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目录

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引用标准

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所属分类:
【英文标准名称】:StandardGuideforIonizingRadiation(TotalDose)EffectsTestingofSemiconductorDevices
【原文标准名称】:半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南
【标准号】:ASTMF1892-2006
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:双极;电离辐射;微电子学;半导体器件;X射线试验
【英文主题词】:Bipolar;Ionizingradiation;Microelectronics;Semiconductordevices;X-raytesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:40P;A4
【正文语种】:英语